← العودة إلى جميع المدونات والمقالات توحيد فترات قياس الخلفية المرجعية في عملية التحليل الطيفي

توحيد فترات قياس الخلفية المرجعية في عملية التحليل الطيفي

ضمان استقرار نموذج المعايرة على المدى الطويل من خلال إدارة درجة الحرارة المحيطة وانحراف مصدر الصمام الثنائي.

سبب الانجراف معايرة الصك

تواجه أجهزة قياس الطيف الصناعي تغيرات بيئية شديدة (مثل التغيرات في درجة الحرارة والرطوبة المحيطة). تؤثر هذه التحولات على استجابة كاشف الصمام الثنائي وإخراج مصدر الضوء، مما يتسبب في انحراف نماذج المعايرة بمرور الوقت. مطلوب قياسات الخلفية المرجعية العادية للحفاظ على الدقة.

المعايير المرجعية الداخلية الآلية

تتميز أجهزة قياس الطيف USTECH بمعايير مرجعية داخلية آلية (مثل مرآة العلم الذهبي). يقوم النظام بقياس الخلفية المرجعية تلقائيًا على فترات زمنية مجدولة، مما يلغي مهام المعايرة اليدوية ويضمن استقرار النموذج على المدى الطويل.

مراجع

  • ASTM E1790 - الممارسة القياسية للتحليل النوعي للأشعة تحت الحمراء القريبة.
  • "أتمتة المعايير المرجعية في تحليلات العمليات للتخفيف من انحراف نموذج المعايرة،"مجلة القياسات الكيميائية، 2023.
USTECH Innovations Logo

تحميل التقرير الفني الكامل

قم بالوصول إلى الورقة التقنية الكاملة غير المحررة مع الصيغ الطيفية الكاملة ومجموعات بيانات المعايرة ومعلمات الأجهزة.

اقرأ التالي